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一、技术性能介绍
1. 设备简介
能量色散型X射线荧光分析仪EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。
2. 主要功能及针对性用途
样品产生的能量荧光X射线同时进入半导体检测器，根据信号处理计算各元素（能源），可以得到荧光X射线光谱，EDX可以同时分析多元素，元素周期表Al以后均可。
3. 主要技术指标
测试对象：固体、液体和粉状体
峰鉴别检测范围：Al--U
仪器主机尺寸（W×D×H）：370mm×320mm×155mm
X射线发生部（X射线线管）：Rh靶材
X射线发生部（电压）：5~50V
X射线发生部（电流）：1~100uA
X射线发生部（冷却方式）：空气冷却
X射线发生部（照射面积）：四种自动交换（φ1、φ3、φ5、φ10mm）
检测器方式：硅漂移半导体检测器（无需液氮）
样品室测试范围：大气
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